عالية التقنية الخطية لوحة اللمس تستر CTP مصنع براءة اختراع المنتج

عالية التقنية الخطية لوحة اللمس تستر CTP مصنع براءة اختراع المنتج

نموذج: RS-5610V

غرض:

هذه اللوحة اختبار اتصال بحث مستقل وتطويرها وتصنيعها من قبل الشركة هو نتاج التكنولوجيا الفائقة دمج مراقبة الحركة، وجمع البيانات وتحليلها والتكنولوجيا الإحصائية، جوهر الذي هو برنامج [نظام التحكم في لوحة تعمل باللمس] للاختبار. أنه يحتوي على مزايا وظيفة قوية، برمجة بسيطة، عملية مريحة والسعر المنخفض الخ. هذا ينطبق على الشاشة CTP تعمل باللمس، شاشة الأشعة تحت الحمراء وتصنيع آلة كاملة (الهاتف المحمول والكمبيوتر .. الخ) البحوث وتطوير المنتجات وكشف المنتج.

براءات الاختراع رقم: ZL2011 2056 1683.X

عنصر اختبار:

(1) تلبية اختبارات الأداء مختلفة من مصنع CTP إلى لوحات، وتغيير مختلف الموانئ بروتوكول الاتصال من أجل تحقيق بسرعة الاختبارات لوحة من
مختلف IC. تلبية الاختبارات آلة كاملة من الهاتف المحمول والكمبيوتر اللوحي وغيرها، نقل البيانات اختبار لبرامج الكمبيوتر عن طريق واي فاي
للحصول على البيانات والتحليل والفرز وتوليد PDF واختبار EXCEL التقارير؛

(2) اضغط دقة الاختبار متعدد نقطة فوق في أي موقف من منطقة الاختبار وفقا لمتطلبات العملاء المختلفة، اختبار انحراف موقف
كل نقطة والدعم نقطتين فوق في وقت واحد لاختبار بصدق قدرة العلاج ودقة المنتج؛

(3) وضع علامات الخطي اختبار دعم الصور كثيرة مثل خطوط متوازية، خط عمودي، مائل وقوس دائري للكشف عن الانحراف الخطي لل
المنتج. يمكن أن يضع مسافة الخط، عدد وحجم القوس في الإرادة داخل منطقة الاختبار ودعم المزيد من أساليب الدعم مثل اثنين نقطة وسم
في وقت واحد وهما نقطة التعميم بمناسبة لقاء خصائص أكثر دقة تمثيل المنتج.

(4) حساسية الاختبار أنه يمكن أن يحدد مختلفة موضع علامات لتحقيق الاتصال العلامات أو عدم الاتصال علامات، وارتفاع القلم لمسة للمنتج يمكن
يتم تعيين وتعديلها وارتفاع السيطرة الاتصال يمكن العثور عليها تلقائيا.

(5) تنسيق اختبار ذلك النرفزة يمكن أن يحدد العديد من الرسوم البيانية اختبار في منطقة الاختبار وقراءة البيانات من كل مرة لعدة مرات وحساب الانحراف
القيمة؛

(6) انزلاق اختبار الموثوقية: فإنه يمكن تعيين العديد من الرسوم البيانية اختبار في منطقة الاختبار والانزلاق وفقا للوقت وتسلسل معين للحكم على ما إذا كانت
هناك خط انقطاع في الاختبار؛

(7) إشارة إلى الضوضاء الاختبار: من ومتعددة نقطة بنقرة واختبار المنتج، ويمكن الحصول على قيمة إشارة التي حصل عليها IC وحساب نسبة الإشارة إلى الضوضاء.
(هناك حاجة إلى دعم من بروتوكول IC)

(8) اختبار ذلك تردد تحديد المواقع يمكن لمس والسيطرة على المنتج في موقع مركزي في منطقة الاختبار والحصول على البيانات لمرات عديدة لحساب
تردد للبيانات لإرسال البيانات؛

(9) اختبار زمن الاستجابة: انقر في أي موقف من منطقة الاختبار ويسيطر على وحات اللمس ويحسب زمن الاستجابة من المنتجات لدعم
متعددة نقطة اختبار زمن الاستجابة.

(10) اختبار استهلاك الطاقة: اختبار استهلاك الطاقة والدينامية المنتج بدقة عالية وحدة على مستوى miliwatt اختبار القوة.
(هناك حاجة إلى دعم من بروتوكول IC)

(11) مع وظيفة قاعدة بيانات قوية، فإنه يمكن تحليل البيانات التي تم جمعها بسرعة لتحقيق الربط بين الرسم البياني مع البيانات، وتولد تلقائيا
تقارير الاختبار المختلفة. يمكن تغيير هذه التقارير وفقا لمتطلبات مختلف المستخدمين.

(12) مع البرمجيات قدرة مضمونة، وتحديد تفويض واختبار مفتاح واحد، فمن السهل في العملية، ويمكن الحكم على نجاح أو رسوب تلقائيا
وفقا لمؤشر مجموعة (قيمة الانحراف) بعد الاختبار؛

لوحة التحكم:

عرض تلقائيا مرت أو فشل بعد الاختبار، ومراقبة امتصاص الفراغ، بدءا، ووقف السيطرة، A / B الموقف تحول الاختبار

مواصفة:

تطبيق:


صورة: